Pseudoproductに基づく回路とそのテスト容易性

• 石川 綾志

• 五十嵐 友則

• 清水 賢資

Bibliographic Information

Other Title

• Pseudoproduct ニ モトヅク カイロ ト ソノ テスト ヨウイセイ

Journal

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 101 (579), 61-67, 2002-01-24

  東京 : 電子情報通信学会

Keywords

• 排他的論理和
• テスト容易化設計
• ランダムパタンテスト
• ESOP
• pseudocube
• Exclusive-OR
• design for testability
• random pattern testing

Details

• CRID: 1520009407342692224
• NII Article ID: 110003295285
• NII Article ID: 110003180708
• NII Book ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL BIB ID: 6072689
• NDL BIB ID: 6072947
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6072689
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6072947
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles