半導体レーザにおける自然放出光係数と強度および周波数雑音との関係
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- 山田実
- 金沢大学工学部
書誌事項
- タイトル別名
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- Variation of intensity-and frequency-noise with the spontaneous emission factor in semiconductor lasers
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抄録
半導体レーザにおける強度雑音や発振線幅が自然放出光係数とどの様に関係しているかを理論的に吟味した。種々の共振器形状や大きさに対しても一般的に適用できる近似的な関係式を導出した。一般的に、光電力が大きくなるほど雑音や線幅は減少する。最近注目を浴びている、微小共振器の場合には低電力動作での動作が予測される。この様な微小共振器では、自然放出光係数が大きく、発振しきい値電流や発振しきい値利得レベルを低下させることが、低雑音あるいは狭発振線幅を得る為の条件である。
収録刊行物
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- 信学技報
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信学技報 93 (57), 73-78, 1993
一般社団法人電子情報通信学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1574231877128422016
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- NII論文ID
- 110003185909
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- NII書誌ID
- AN10013028
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- CiNii Articles