誘電体共振器法による高温超電導薄膜の表面抵抗のミリ波測定に関する検討 Discussions on millimeter wave measurements of surface resistance of high-T_c superconductor films by the dielectric resonator method.

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抄録

本報告では、10GHzから40GHzにわたり、TE_<011>モードとTE_<013>モードの2つのサファイア円柱共振器を用いる2共振器法によるYBCO薄膜の表面抵抗R_sの測定精度の周波数依存性に対する検討を行う。実際に12GHzおよび20GHzにおいて種々のYBCO薄膜のR_sの温度依存性の測定を行い、その測定精度を評価する。結論として、測定精度10%が12GHzでR_s=0.1mΩをもつYBCO薄膜に関して本法により実現される。

In the frequency range from 10GHz to 40GHz, this paper discusses the measurement precision of r_s for the two-resonator methods, in which a TE_<011>-and TE_<013>-mode sapphire rod resonators are used. Actually, the temperature dependence of R_s of YBCO films of some kinds are measured at 12GHz and 20GHz and their measurement precision are estimated. As a result, the high measurement precision of 10 percents is realized by this method for the YBCO films having R_s=0.1mΩ at 12GHz.

収録刊行物

  • 電子情報通信学会技術研究報告. SCE, 超伝導エレクトロニクス

    電子情報通信学会技術研究報告. SCE, 超伝導エレクトロニクス 99(28), 33-38, 1999-04-23

    一般社団法人電子情報通信学会

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110003187558
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10012885
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09135685
  • NDL 記事登録ID
    4731001
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-940
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  NII-ELS 
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