誘電体共振器法による導体の表面抵抗の測定に関する検討 Some Discussions on Microwave Measurement of the Surface Resistance for conductors by the Dielectric Rod Resonator Method

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抄録

マイクロ波帯において両端短絡形誘電体共振器法は低損失材料の比誘電率ε_<Γ>誘電正接tanδ,および導体板の表面抵抗(実効導電率σ)の高精度な測定方法として確立されつつある。従来、σ測定に関しては、共振器長が整数倍異なる2つの共振器の共振周波数fと無負荷Q,Q_<u>の測定値より求める方法(2共振器法)がよく用いられてきた。また2つの共振器間のtanδの差を受けない方法として、1つの共振器の2つの共振モードのfとQ_<u>の測定値より求める方法(1共振器法)、が提案されている。本研究ではtanδの周波数依存性を考慮しため測定公式を導出し、これよりBMTセラミック誘電体共振器および単結晶サファイア誘電体共振器を用いて、これらの2つの方法に関しての測定精度の検討を行った。この結果、2共振器法は1共振器法よりもばらつき誤差は小さいが、2つの共振器のtanδの差により大きな誤差が生じる実証された。

A dielectric resonators method is available for measuring the relative permitivity er and loss tangent tanδ of low-loss materials and the conductivity σ of conducting plates accurately. For the σ measurement, so-called two resonators method has been commonly used, in which the value of σ is obtained from the measured values of the resonant frequency f and the unloaded Q,Q_<u> for two resonators which have different integer lengths each other. Another method which is called one resonator method has been proposed as one without influence of difference between the tan δ values of the two resonators. In this paper, the precisions of the σ measurements for these two methods are discussed by using BMT ceramic and sapphire dielectric resonators. As a result it is verified that two resonator method has smaller scattering than one resonator method and a considerable error occurs from a difference between the tanδ values in two resonator method.

収録刊行物

  • 電子情報通信学会技術研究報告. MW, マイクロ波

    電子情報通信学会技術研究報告. MW, マイクロ波 95(371), 67-72, 1995-11-17

    一般社団法人電子情報通信学会

参考文献:  3件中 1-3件 を表示

被引用文献:  4件中 1-4件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110003189473
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10013185
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NII-ELS 
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