導波管励振誘電体平板共振器を用いたミリ波複素誘導率の非破壊測定 Nondestructive Measurements of Complex Permittivity Using Dielectric Disk Resonator Excited by Waveguides in the Millimeter Wave Range

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抄録

本研究では、導体円筒を真中で切断し、その間に誘電体平板材料を挟んで構成される導波管励振誘電体平板共振器のTE_010>,TE_020>,TE_030>モードを用いて、ミリ波帯においてその複素誘電率の非破壊測定を行う。まず、本共振器構造の共振周波数および無負荷Qの計算を、境界条件により得られる積分方程式にリッツ・ガレルキン法を適応した厳密な解析法により正確に行う。この計算結果より、複素誘電率に及ぼす縁端効果を求めることが可能となった。本測定では、まず、縁端効果を無視して簡単な計算式より複素誘電率を求め、次に本計算によって求められた縁端効果の補正図より正しい値を求める方法により、測定の簡素化を実現する。実際に45-60GHzにおいてテフロン、アルミナ、GaAs基板の複素誘電率の測定を行い、本測定法の有効性を実証する。

This paper discusses a nondestructive method to mearsure accurately complex permittivity of dielectric sheet samples in the muhmeter-wave range.A dielectric plate resonator is constructed by sandwitching a dierectric sheet sample between two circulars metallic cylinder oriented coaxially and is excited by rectangular waveguides.The measurements of PTFE,Alumina,and GaAs sheet samples are performed in 45-60GHz to verify availability of this method.

収録刊行物

  • 信学技報

    信学技報 MW94-40, 25-32, 1994

    一般社団法人電子情報通信学会

被引用文献:  2件中 1-2件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110003189911
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00245490
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    雑誌論文
  • データ提供元
    CJP引用  NII-ELS 
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