ミリ波同軸励振空洞共振器法による誘電体平板の複素誘電率測定 Millimeter wave measurements of complex permittivity of dielectric plates by a cavity resonance method based on coaxial excitation

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抄録

本報告では、ミリ波帯において、低損失誘電体平板材料の複素誘電率を測定するために、モードマッチング法による厳密な数値解析に基づいた同軸励振空洞共振器法を提案する。この測定方法を用いて、GaAs平板、PTFE平板、Crythnex平板の複素誘電率を室温において測定した。また、GaAs平板の複素誘電率の周波数依存性を10GHz-40GHzの範囲で測定した。

A novel circular resonance method based on a rigorous analysis by the mode matching technique is proposed to measure the complex permittivity of low loss dielectric plates accurately in the millimeter wave region. By this method, the complex permittivity for GaAs plate, PTFE plate and Crythnex plate were measured at room temperature, and the frequency dependence of complex permittivity for GaAs plates were measured in the frequency range 10 to 40GHz. It is verified that this method is useful as a precise measurement method of the permittivity of low loss dielectric plates in the microwave and millimeter wave regions.

収録刊行物

  • 電子情報通信学会技術研究報告. MW, マイクロ波  

    電子情報通信学会技術研究報告. MW, マイクロ波 99(78), 73-76, 1999-05-21 

    一般社団法人電子情報通信学会

参考文献:  6件

被引用文献:  10件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110003189978
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10013185
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09135685
  • NDL 記事登録ID
    4759458
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-940
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
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