SCE2000-13 / MW2000-77 高温超伝導SQUID磁束計の磁場中動作特性  [in Japanese] SCE2000-13 / MW2000-77 Characteristics of High Tc SQUID magnetometer in applied magnetic fields  [in Japanese]

    • 小山 洋 Oyama H.
    • 北海道大学電子科学研究所 Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University
    • 平野 悟 Hirano S.
    • 北海道大学電子科学研究所 Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University
    • 栗城 眞也 Kuriki S.
    • 北海道大学電子科学研究所 Research Institute for Electronic Science, Hokkaido University

Abstract

高温超伝導SQUID磁束計のフラックスダム(SQUID近傍の幅の狭い粒界接合)に45μm×10μmのスロットを入れることで低周波ノイズの増加を抑制できることが分かった。SrTiO_3基板上に成膜したYBa_2Cu_3O_<7-x>薄膜から直結型SQUID磁束計を作製し、磁場中冷却(FC)実験とゼロ磁場冷却(ZFC)後の磁場印加実験を行った。その結果、低周波ノイズが増加し始める閾値磁場は83μT(FC)、40μT(ZFC)まで向上した。ただし、ボルテックスが安定に存在しない形状のフラックスダムを持つデバイスの場合はノイズの抑制が見られないことから、フラックスダムの設計が重要であることが示された。

We demonstrate that the low frequency noise in high Tc SQUID magnetometers can be reduced by forming slots in flux dams. We designed and fabricated directly coupled dc SQUID magnetometers with mesh structure using YBa_2Cu_3O_<7-x> thin film on SrTiO_3 substrate. In order to suppress the flux motion in the flux dams, we formed 5μm wide strip lines and slots along the GB of the flux dams. The FLL output was stable and the increase of low frequency noise was suppressed up to an applied field of 83μT(field cool)and 40μT(field change after zero field cool). However, another type of magnetometer with different geometry of flux dams showed a drift of FLL output. So, it is important to control the structure of the flux dams.

Journal

IEICE technical report. Microwaves   [List of Volumes]

IEICE technical report. Microwaves 100(275), 15-20, 2000-08-22  [Table of Contents]

The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

References:  8

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Codes

  • NII Article ID (NAID) :
    110003190139
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID) :
    AN10013185
  • Text Lang :
    JPN
  • Article Type :
    ART
  • ISSN :
    09135685
  • NDL Article ID :
    5482428
  • NDL Source Classification :
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL Call No. :
    Z16-940
  • Databases :
    CJP  NDL  NII-ELS 

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