電流テストによるバイポーラ論理回路のブリッジ故障検出法  [in Japanese] Supply Current Testing of Bridging faults in Bipolar Logic Circuits  [in Japanese]

本稿では, バイポーラ組合せ論理回路において電流テストによるブリッジ故障検出のための検査入力生成法を提案している.また, その検査入力生成法を用いて, TTL-LS型SSIのみまたはECL型SSIのみによって実現したISCAS-85ベンチマーク回路に対して, ブリッジ故障検出のため検査入力生成実験を行い, 故障検出率を導出している.それにより本手法は, CMOS回路の場合と同様に, 多くのブリッジ故障に対して検査入力が導出できることが示されている.

In this paper, a test input generation method for current testing is proposed to detect bridging faults in bipolar combinational logic circuits. With the method, test input vectors are derived for bridging faults in ISCAS-85 benchmark circuits implemented on printed circuit boards with either TTL-LS SSIs or ECL ones. The result shows that most of the bridging faults can be detected by the test input vectors, like in CMOS circuits.