コントローラの機能を利用したデータパスのテスト容易化設計  [in Japanese] Design-for-testability of a datapath using function of its original controller  [in Japanese]

本稿では、データパスとコントローラからなるレジスタレベル回路のデータパス部のテスト容易化設計法を提案する。データパス部のテスト容易性を向上するために、データパス部とコントローラ部の双方に付加回路の追加を行う。テスト容易化設計後のデータパスは強可検査性を満たし、階層テスト生成が可能である。また、テスト実行時に必要な制御信号の時系列であるテストプランは、テスト容易化設計されたコントローラから供給される。通常動作のためのコントローラの機能を利用することで、テストプランを供給するためのハードウェア・オーバヘッドを大幅に削減する。

This paper proposes a design-for-testability(DFT)method of a datapath of a register transfer level circuit which consists of a datapath and a controller. We add circuitry to both the datapath and the controller. The datapath after DFT satisfies strong testability, that is sufficient for hierarchical test generation. Our method provides test plans from the controller after DFT, where a test plan is a sequence of controll signals necessary for test application. By using function of the original controller, we reduce hardware-overhead.