ショーパスディレイ : 故障モデルとテスト生成  [in Japanese] Short Path Delay Faults : Fault Model and Test Generation  [in Japanese]

製造上の欠陥に起因してフリップフロップ間に生じるタイミング的な故障にはセットアップエラーを生じる故障とホールドエラーを生じる故障の2通りがある。本論文では、ホールドエラーを生じる故障であるショートパスディレイ故障という概念について述べる。またその故障モデル、ロバストおよびノンロバストテストにおけるパス活性化条件を提案し、ノンロバストテストにおけるテスト生成手法の実験結果を示す。

Timing faults between flip-flops can be categorized in two types, ste-up time faults and hold time ones. While general delay testing deals with the ste-up fime faults, the hold time faults are not considered. We name the hold time faults on paths between two flip-flops"short path delay faults". In this paper, we propose some fault models, propagation conditions ofr robust and non-robust tests, and a test generation method for non-robust tests for short path delay faults. Experimental results of test generation are also shown.