近傍パターン群発生によるデターミニスティックBIST方式  [in Japanese] Deterministic BIST Using Neighborhood Pattern Generation  [in Japanese]

本稿では, 少ないテストデータ量で論理BIST(Built-In Self-Test)方式の故障検出効率を向上するために, デターミニスティックBIST方式の一手法として, ハミング距離の近いパターン群(近傍パターン群)を発生するテストパターン発生器(TPG)とその制御方法を提案する.提案するTPGは, その回路構成がテスト対象回路に依存しない, ゲート数がLFSR(Linear Feedback Sift Register)の2倍強で済むため面積オーバーヘッドが実用上許容範囲, という長所を持つ.また, TPGに入力するコードの生成方法として, アルゴリズムを利用して生成されたテストパターン集合から, 基準となるパターンとそれに対するビット反転情報を抽出しコード化する手順を述べる.提案手法の有効性を確認するため, ベンチマーク回路や実用回路に適用した実験結果を示す.

This paper presents a test pattern generator(TPG)which generates patterns with small Hamming-distance each other(neighborhood patterns)and its control method as a new Deterministic BIST(Built-In Self-Test)technique. The purpose of the proposed method is to improve the fault efficiency in Logic BIST using small volume of test data. The proposed TPG has two merits : 1)its structure does not depend on the circuit under test , 2)its area overhead is practically acceptable because it has nearly twice as many gates as a LFSR(Linear Feedback Sift Register). We describe a generation method of TPG codes, where central patterns and their bit-flipping information to be encoded are generated from deterministic test patterns. Efficiency of the proposed method is evaluated by experimental results for benchmark circuits and industrial circuits.