シリコン量子井戸構造の作製と評価

• 石原 大阿

• 岩崎 正憲

• 石川 靖彦

書誌事項

タイトル別名

• シリコン リョウシ イド コウゾウ ノ サクセイ ト ヒョウカ

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 101 (81), 81-85, 2001-05-25

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• Si
• SiO2
• SOI
• 二重障壁構造
• 負性微分抵抗
• 共鳴トンネル効果
• double barrier structure
• negative differential resistance
• resonant tunneling

詳細情報

• CRID: 1520853832703573632
• NII論文ID: 110003199659
• NII論文ID: 110003310801
• NII論文ID: 110003201331
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 5801574
• NDL書誌ID: 5801360
• NDL書誌ID: 5801061
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I5801574
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I5801360
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I5801061
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles