再構成可能結合ラッパーを用いた SoC のテストスケジューリング(スケジューリング, VLSI 設計とテスト及び一般)  [in Japanese] A Reconfigurable Union Wrapper for SoC Test Scheduling  [in Japanese]

Abstract

本論文において, 各コア毎ではなく, 複数のコアを同時に考慮したラッパーとして再構成可能結合ラッパーを提案する.さらに, 再構成可能結合ラッパーを利用したテスト実行時間の最小化を目的としたテストスケジューリング手法も提案する.ヒューリスティックアルゴリズムを用いることにより, 短い計算時間でスケジューリングを生成することが可能である.ITC'02 SOCベンチマークに対する評価実験では, 従来法に比べ短いテスト実行時間を達成可能であることを示す.

This paper presents a reconfigurable union wrapper that can wrap multiple cores into single wrapper design. Moreover, we present a test scheduling algorithm to minimize a test application time using the proposed reconfigurable union wrapper. The proposed heuristic algorithm can achieve short test application time with low computational cost. Experimental results for the ITC'02 SOC Benchmarks show the effectiveness of our approach.

Journal

IEICE technical report. Dependable computing   [List of Volumes]

IEICE technical report. Dependable computing 104(664), 63-68, 2005-02-11  [Table of Contents]

The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

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Codes

  • NII Article ID (NAID) :
    110003204374
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID) :
    AA11645397
  • Text Lang :
    JPN
  • Article Type :
    ART
  • ISSN :
    09135685
  • NDL Article ID :
    7282924
  • NDL Source Classification :
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL Call No. :
    Z16-940
  • Databases :
    CJP  NDL  NII-ELS 

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