D-6-4 データ依存回路による隣接判定方式の評価 EVALUATION OF DATA-DEPENDENT CIRCUITS FOR ADJACENCY CHECK

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著者

    • 山本 浩司 Yamamoto Hiroshi
    • 豊橋技術科学大学知識情報工学系 Department of Knowledge-based Information Engineering, Toyohashi University of Technology
    • 市川 周一 Ichikawa Shuichi
    • 豊橋技術科学大学知識情報工学系 Department of Knowledge-based Information Engineering, Toyohashi University of Technology

収録刊行物

  • 電子情報通信学会総合大会講演論文集

    電子情報通信学会総合大会講演論文集 2003年_情報・システム(1), 64, 2003-03-03

    一般社団法人電子情報通信学会

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110003239358
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10471452
  • 本文言語コード
    JPN
  • データ提供元
    NII-ELS 
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