高温超伝導体のマイクロ波表面抵抗測定用サファイア円柱の誘電損失に関する実験的検討 Experimental discussions on loss tangent of sapphire rods for microwave surface resistance measurement of high-temperature superconductors

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抄録

両端短絡形誘電体共振器法は, マイクロ波帯における高温超伝導体の表面抵抗R_Sの高精度測定法として以前報告されている。サファイアは, 誘電正接tanδが小さいため, R_S測定は, tanδの値を無視して行われている。しかし, サファイアには不純物や格子欠損のため, tanδに差異があることが知られている。本報告では, 両端短絡形誘電体共振器法によりモードが異なる2つのサファイア円柱共振器共振器を用いて比誘電率ε_r, tanδ, R_Sの測定を行い, 4つのサファイア円柱の誘電損失について検討する。この結果, tanδに差異があることを確認した。これより, 同じ特性のtanδの試料を組み合わせることによりR_Sの高精度測定が可能であることを示す。

収録刊行物

  • 電子情報通信学会総合大会講演論文集  

    電子情報通信学会総合大会講演論文集 1997年.エレクトロニクス(1), 477-478, 1997-03-06 

    一般社団法人電子情報通信学会

被引用文献:  2件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110003249166
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10471452
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    会議資料
  • データ提供元
    CJP引用 
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