制御継電器での電気接点損傷に関する数値評価研究(その15)AgCdO12wt%電気接点対での開離責務接点の損傷と閉成責務接点の損傷との比較

• 渡邊 隆志

• 守永 和史

• 秋山 健司

Bibliographic Information

Other Title

• セイギョ ケイデンキ デ ノ デンキ セッテン ソンショウ ニ カンスル スウチ ヒョウカ ケンキュウ ソノ 15 AgCdO12wt パーセント デンキ セッテン タイ デ ノ カイリセキム セッテン ノ ソンショウ ト ヘイセイセキム セッテン ノ ソンショウ ト ノ ヒカク

Journal

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 99 (644), 13-18, 2000-02-18

  東京 : 電子情報通信学会

Keywords

• 開離動作責務
• 閉成動作責務
• アーク放電
• 転移突起
• 皮膜
• Ag/CdO電気接点
• break-only-operations
• make-only-operations
• arc discharge
• transferred pip
• film
• Ag/CdO contacts

Details

• CRID: 1520290885256039296
• NII Article ID: 110003293999
• NII Article ID: 110003302018
• NII Book ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL BIB ID: 5317852
• NDL BIB ID: 5317848
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I5317852
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I5317848
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles