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<dc:title>圧着接続メカニズムに関する考察(&lt;特集&gt;機構デバイスの信頼性,信頼性一般)</dc:title>
<dc:creator>荻原 茂</dc:creator>
<dc:creator>南 善則</dc:creator>
<dc:creator>大谷 弘</dc:creator>
<dc:creator>齋藤 寧</dc:creator>
<dc:publisher>社団法人電子情報通信学会</dc:publisher>
<prism:publicationName>電子情報通信学会技術研究報告. R, 信頼性</prism:publicationName>
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<prism:publicationDate>2003-02-14</prism:publicationDate>
<dc:description>本研究会において既報の2次元CAE解析での圧着接続メカニズムの検討を発展させ、3次元CAE解析による検討を行っている。3次元CAE解析を行うことにより、端子長手方向での接触圧力の分布、電線の長手方向への逃げ等を考慮に入れた解析が可能となり、より正確な接触荷重を求めることにより、接続信頼性検討の精度向上が見込まれる。本報告では、圧着部の3次元CAE解析による検討例について報告する。</dc:description>
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<dc:date>2003-02-14</dc:date>
<cinii:naid>110003301641</cinii:naid>
<cinii:ncid>AN10013243</cinii:ncid>
<cinii:ndljpi>6506184</cinii:ndljpi>
<dc:language>JPN</dc:language>
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<dc:title>Study of The Crimps</dc:title>
<dc:creator>OGIHARA Shigeru</dc:creator>
<dc:creator>MINAMI Yoshinori</dc:creator>
<dc:creator>OHTANI Hiromu</dc:creator>
<dc:creator>SAITOH Yasushi</dc:creator>
<dc:publisher>The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers</dc:publisher>
<prism:publicationName>IEICE technical report. Reliability</prism:publicationName>
<dc:description>We reported on study of crimps using 2D-CAE. We investigate crimps using 3D-CAE for higher accuracy CAE-Technology. We report on study of crimps using 3D-CAE.</dc:description>
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