圧着接続メカニズムに関する考察(<特集>機構デバイスの信頼性,信頼性一般) Study of The Crimps

    • 荻原 茂 OGIHARA Shigeru
    • 株式会社オートネットワーク技術研究所回路接続研究部 AutoNetworks Technologies, Ltd. Basic Technology R&D Department
    • 南 善則 MINAMI Yoshinori
    • 株式会社オートネットワーク技術研究所回路接続研究部 AutoNetworks Technologies, Ltd. Basic Technology R&D Department
    • 大谷 弘 OHTANI Hiromu
    • 株式会社オートネットワーク技術研究所回路接続研究部 AutoNetworks Technologies, Ltd. Basic Technology R&D Department
    • 齋藤 寧 SAITOH Yasushi
    • 株式会社オートネットワーク技術研究所回路接続研究部 AutoNetworks Technologies, Ltd. Basic Technology R&D Department

抄録

本研究会において既報の2次元CAE解析での圧着接続メカニズムの検討を発展させ、3次元CAE解析による検討を行っている。3次元CAE解析を行うことにより、端子長手方向での接触圧力の分布、電線の長手方向への逃げ等を考慮に入れた解析が可能となり、より正確な接触荷重を求めることにより、接続信頼性検討の精度向上が見込まれる。本報告では、圧着部の3次元CAE解析による検討例について報告する。

We reported on study of crimps using 2D-CAE. We investigate crimps using 3D-CAE for higher accuracy CAE-Technology. We report on study of crimps using 3D-CAE.

収録刊行物

電子情報通信学会技術研究報告. R, 信頼性   [収録刊行物詳細]

IEICE technical report. Reliability  102(653)  pp.11-14 20030214  [目次]

社団法人電子情報通信学会

参考文献:  1件

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プレビュー

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)：
    110003301641
  • NII書誌ID(NCID)：
    AN10013243
  • 本文言語コード：
    JPN
  • 資料種別：
    ART
  • ISSN：
    09135685
  • NDL 雑誌記事ID：
    0511419903
  • NDL 雑誌分類：
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号：
    Z16-940
  • 収録DB：
    CJP書誌  NDL  NII-ELS 

書き出し