42V-5Ω及び7Ω回路内におけるAgCdO12wt%開閉電気接点対の転移突起に関する比較研究(<特集>機構デバイスの信頼性,信頼性一般)  [in Japanese] A Comparative Study of Transferred Pips on AgCdO12wt% Contacts Mounted on Relays in DC 42V-5Ω and 7Ω Circuits  [in Japanese]

AgCdO12wt%電気接点対を継電器に搭載し、直流42V-5Ωと42V-7Ω抵抗性回路内で閉成責務動作と開離責務動作を行なう。アーク継続時間、バウンス回数測定し、デジタルカメラを用いて転移突起の成長過程を1,000回ごとに撮影する。どちらの回路においても閉成責務動作では陰極側電気接点に大きな転移突起が形成される。開離責務動作させた試料では、42V-5Ω抵抗性回路中で実験させた試料のうち、アーク放電継続時間が長い試料3個においては陽極に丘状の転移物が存在し、アーク放電継続時間が短い試料3個においては陰極側に小さな突起が存在する。なお、42V-7Ω抵抗性回路を開離責務した試料全部で陰極に小さな突起が形成される。

AgCdO12wt% contacts mounted on relays are tested as the make-only and break-only-contacts in DC42V-5Ω and DC42V-7Ω resistive circuits. In this experience, we measure the arc duration, the number of bounce and digital pictures of contacts in every number of 1,000 operations. At make-only-contacts, a large transferred pip is formed on the cathode in both circuits. At break-only-contacts, the transferred hill is formed on the anode of samples that the arc duration is short, and a small pip formed on cathode of other samples that the arc duration is short in DC42V-5Ω and 42V-7Ω resistive circuits.