Study of electron irradiation effect on CuInSe2 thin films

• 李 海錫

• 海江田 理

• 藤田 尚樹

書誌事項

タイトル別名

• CuInSe2薄膜の電子線照射効果の検討

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 101 (82), 25-29, 2001-05-24

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 照射欠陥
• キャリア消滅速度
• 太陽電池
• irradiation induced defect
• carrier removal rate
• solar cell

詳細情報

• CRID: 1520009407083788288
• NII論文ID: 110003310776
• NII論文ID: 110003201306
• NII論文ID: 110003199634
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 5800840
• NDL書誌ID: 5801487
• NDL書誌ID: 5801231
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I5800840
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I5801487
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I5801231
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles