a-Si TFTのフリッカノイズ測定とモデリング

• 青木 均

  日本ヒューレット・パッカード(株)デザイン&テストコンサルティング

書誌事項

タイトル別名

• Filcker Noise Measurement and Modeling for an a-Si TFT

抄録

本論文では, a-Si TFT単体のフリッカノイズ, 熱雑音のモデル化を行い, 測定結果を使ってそのモデルパラメータを抽出し, 測定データとシミュレーションデータを比較検討する. 作成したモデルは, MOSFET, JFETのモデルをもとに開発しSPICEに搭載した.

収録刊行物

• 電子情報通信学会論文誌. C-2, エレクトロニクス 2-電子素子・応用

  電子情報通信学会論文誌. C-2, エレクトロニクス 2-電子素子・応用 82 (5), 284-285, 1999-05

  一般社団法人電子情報通信学会

キーワード

• フリッカノイズ
• モデリング
• a-Si TFT
• 1
• f noise
• 測定

詳細情報

• CRID: 1571417127413609728
• NII論文ID: 110003315247
• NII書誌ID: AN10071294
• ISSN: 09151907
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles