Learning-Based Improvement in Fault Tolerance of Hopfield Associative Memories

• 上浦 尚武

• 礒川 悌次郎

• 松井 伸之

書誌事項

タイトル別名

• Learning Based Improvement in Fault Tolerance of Hopfield Associative Memories
• ホップフィールド連想記憶に対する学習に基づくフォールトトレランス強化

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 104 (627), 59-64, 2005-01-28

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 故障注入
• 荷重値制限
• ヘブ学習
• Fault Injection
• Weight Restriction
• Hebbian Learning

詳細情報

• CRID: 1520290882424087168
• NII論文ID: 110003318246
• NII論文ID: 110003204915
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 7253272
• NDL書誌ID: 7253371
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I7253272
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I7253371
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles