Observation of the Potential Barrier in Cuprous Oxide Rectifier with Scanning Electron Microscopy Using Beam Induced Current

• Mizuguchi Jin

  Sony Corporation Research Center

収録刊行物

• Japanese Journal of Applied Physics

  Japanese Journal of Applied Physics 15 (5), 907-908, 1976

  社団法人応用物理学会

詳細情報

• CRID: 1570572702423090944
• NII論文ID: 110003895396
• NII書誌ID: AA00690800
• ISSN: 00214922
• 本文言語コード: en
• データソース種別:
  • CiNii Articles