Spectral emissivity of silicon

• SATO T.

  The Research Institute for Scientific Measurements Tohoku University

収録刊行物

• Japan. J. Appl. Phys.

  Japan. J. Appl. Phys. 6 (3), 339-347, 1967

  社団法人応用物理学会

詳細情報

• CRID: 1572543027259900160
• NII論文ID: 110003897641
• NII書誌ID: AA00690800
• ISSN: 00214922
• 本文言語コード: en
• データソース種別:
  • CiNii Articles