Analysis of retrieval signal deterioration caused by disk surface roughness

  • HONGUH Y.
    Research and Development Center, Toshiba Corporation

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収録刊行物

  • Jpn. J. Appl. Phys.

    Jpn. J. Appl. Phys. 28 (28), 115-119, 1989

    社団法人応用物理学会

被引用文献 (6)*注記

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1570854177382750976
  • NII論文ID
    110003912426
  • NII書誌ID
    AA10457686
  • ISSN
    00214922
  • 本文言語コード
    en
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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