Effects of crystalline defects on electrical properties in silicon films on sapphire
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- : A-7: SOS DEVICES
- Toshiba Research and Development Center, Tokyo Shibawa Electric Co., Ltd.
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- YOSHII Toshio
- Toshiba Research and Development Center, Tokyo Shibawa Electric Co., Ltd.
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- HATANAKA Katsunori
- Faculty of Science, Gakushuin University
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- YASUDA Yukio
- Toshiba Research and Development Center, Tokyo Shibawa Electric Co., Ltd.
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収録刊行物
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- Jpn J. Appl. Phys.
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Jpn J. Appl. Phys. 15 225-231, 1976
社団法人応用物理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1573387452254061824
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- NII論文ID
- 110003953917
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- NII書誌ID
- AA10457686
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- ISSN
- 00214922
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- 本文言語コード
- en
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- データソース種別
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- CiNii Articles