縮退故障のテスト生成アルゴリズムを用いたパス遅延故障に対するテスト生成法  [in Japanese] A Method of Test Generation for Path Delay Faults Using Stuck-at Fault Test Generation Algorithms  [in Japanese]

本稿では,組合せ回路のノンロバストテスト可能なパス遅延故障に対するテスト生成を,縮退故障用のテスト生成アルゴリズムを用いて行う方法を提案する.具体的には与えられた組合せ回路をパスリーフ化変換を用いて部分リーフダグと呼ばれる回路へ擬似的に変換し,部分リーフダグに対して縮退故障用のテスト生成アルゴリズムを用いてテスト生成を行い,得られたテストパターンを元の組合せ回路の2パターンテストに変換する.本稿ではさらに,提案手法の正当性を示し,ベンチマーク回路に対する実験結果より有効性を示す.

In this paper, we propose a test generation method for non-robust path delay faults using stuck-at fault test generation algorithms. In the method, we first transform an original combinational circuit into a circuit called a partial leaf-dag using path-leaf transformation. Next we generate test patterns using a stuck-at fault test generation algorithm for stuck-at faults in the partial leaf-dag. Then we transform the test patterns into two-pattern tests for path delay faults in the original circuit. We prove the correctness of this approach and show effectiveness of this approach from experimental results for benchmark circuits.