ディレイテストにおけるパス選択基準とテストクオリティの評価  [in Japanese] Evaluation of Path Selection Criteria and Test Quality for Delay Testing  [in Japanese]

本論文ではパス遅延故障のテストにおけるテスト対象パスの選択基準とそれに伴うテストクオリティについて考察する.パス遅延故障のテストでは回路規模が増大すると現実的に全てのパスをテストすることは困難である.そのため全てのパスをテストするのではなく,一部のパスを選択してテストすることが必要になる.パス遅延故障におけるテスト対象パスの選択では,故障を起こしやすい長いパスを選択することが効果的であるがその選択基準には様々なものが考えられる.本論文では三種類のパス選択基準を用いてテスト不能パスを除いたテスト対象パスの選択を行い,各基準において選択されたパスの集合の包含関係を示した後それぞれについてセグメント遅延故障や縮退故障などの検出の目安となるセグメントの被覆率を比較することによりテストクオリティを考察する.

In this paper, we discuss criterion for path selection in path delay fault testing. It is difficult for a circuit with large number of paths to test all the paths practically. Then, we need to choose a subset of paths to be tested. Although it would be effective for detecting defects to test longer paths, we can consider some definitions of long paths to be selected. In this paper, we implement three kinds of path selection methods, and investigate test quality of each method, by comparing coverage of gate delay faults and segment delay faults on the selected paths. Moreover, we also treat path selection with untestable path analysis and consider the influence on test generation.