C-11-2 Pドープ4層バッファを用いたSi/SiGe系共鳴トンネルダイオードの作製(C-11.シリコン材料・デバイス,エレクトロニクス2)

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タイトル別名
  • C-11-2 Fabrication of Si/SiGe material systems Resonance Tunneling Diode which applied four layer structure buffer doped phosphorus

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  • CRID
    1572543026850056704
  • NII論文ID
    110004744763
  • NII書誌ID
    AN10489017
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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