Invited: Control of defect and impurity states at AlGaN surfaces for sensor application

• 橋詰 保

• 金子 昌充

• 小谷 淳二

書誌事項

タイトル別名

• Invited Control of defect and impurity states at AlGaN surfaces for sensor application
• 招待論文 AlGaN表面の欠陥・不純物準位の制御とセンサー応用
• AWAD2006
• AWAD2006

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 106 (137), 93-98, 2006-07

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• ショットキー接合
• リーク電流
• 窒素空孔
• 酸素水素センサー
• 化学センサー
• Schottky
• leakage current
• nitrogen vacancy
• oxygen
• hydrogen sensor
• chemical sensor

詳細情報

• CRID: 1520009409198141312
• NII論文ID: 110004840438
• NII論文ID: 110004813202
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 8015591
• NDL書誌ID: 8016585
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/8015591
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8015591
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/8016585
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8016585
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles