Transfer and Detection of Single Electrons using Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect-Transistors

• W. C. Zhang

• K. Nishiguchi

• Y. Ono

書誌事項

タイトル別名

• Transfer and Detection of Single Electrons using Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistors
• AWAD2006
• AWAD2006

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 106 (138), 249-253, 2006-07

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• Single-electron
• turnstile
• MOSFET
• accuracy

詳細情報

• CRID: 1520009408329529984
• NII論文ID: 110004840470
• NII論文ID: 110004813234
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 8016969
• NDL書誌ID: 8016170
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8016969
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8016170
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles