115 EBSD(電子線後方散乱回折)法による結晶方位変化に注目した疲労き裂伝ぱ挙動に関する研究(薄膜,疲労の機構と強度信頼性,オーガナイスドセッション1,第53期学術講演会)  [in Japanese]

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学術講演会講演論文集   [List of Volumes]

学術講演会講演論文集 53, 29-30, 2004-05-14  [Table of Contents]

The Society of Materials Science, Japan

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Codes

  • NII Article ID (NAID) :
    110004870514
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID) :
    AA11881527
  • Text Lang :
    JPN
  • Databases :
    NII-ELS