特別講演 SATアルゴリズムとその形式的検証への応用

• 藤田 昌宏

書誌事項

タイトル別名

• トクベツ コウエン SAT アルゴリズム ト ソノ ケイシキテキ ケンショウ エ ノ オウヨウ
• デザインガイア2006--VLSI設計の新しい大地を考える研究会
• デザイン ガイア 2006 VLSI セッケイ ノ アタラシイ ダイチ オ カンガエル ケンキュウカイ

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 106 (388), 15-20, 2006-11-29

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• BCP
• 等価性検証
• モデルチェッキング
• SAT algorithm
• formal verification
• equivalence checking
• model checking

詳細情報

• CRID: 1520009407329522816
• NII論文ID: 110005717971
• NII論文ID: 110005716972
• NII論文ID: 110005717353
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 8571416
• NDL書誌ID: 8571576
• NDL書誌ID: 8571579
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8571416
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8571576
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8571579
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles