ディジタル回路の適応検査を応用したアナログ回路の故障診断(セッション5 : アナログ回路テスト, VLSI設計とテスト及び一般)  [in Japanese] Fault Diagnosis of Analog Circuit by Adaptive Test of Digital Circuit  [in Japanese]

アナログ回路の故障診断法として、X-Yゾーン法と動作領域モデルを併用した故障診断法が提案されている。X-Yゾーン法は、回路の入出力特性を利用して故障を検出するアナログ回路の故障検出法であり、動作領域モデルは、MOSトランジスタの動作を動作領域によってモデル化する方法である。本論文では、X-Yゾーン法と動作領域モデルを併用した故障診断法を基に、ディジタル回路の適応検査の考えを取り入れた新たな故障診断法を提案する。提案した方法について、2種類のベンチマーク回路のソフト故障とハード故障を対象に診断シミュレーションを行い、診断系列長を大幅に削減できることを確認した。また、入出力特性を利用したグループ分けを用いた診断方法を提案する。この診断方法についても同様に診断シミュレーションを行い、診断系列長を一層削減できることを確認した。

In this paper, we propose a method for diagnosing analog circuits by adaptive test of digital circuits, which is based on the operation-region model and the X-Y zoning method. The X-Y zoning method uses the characteristics of circuit input voltage and output voltage. The operation-region model can be used to model circuit behaviors by utilizing changes in the operation regions of MOS transistors. Moreover, we propose a new data processing method that utilizes the output response of a circuit to obtain better diagnostic performance. We demonstrate the effectiveness of the proposed methods by applying them to ITC'97 benchmark circuits with hard faults and soft faults. These improved methods can reduce a diagnostic sequence length without degrading the performance of diagnostic resolution.