抄録
コアベースシステムオンチップ(SoC)が可検査であるためには,それを構成するコア自身が可検査(高品質のテスト系列が提供される)であり,かつSoCの外部から内部の各コアへのテストアクセスが可能である必要がある.更に,このテストアクセス方式によりコア間の信号線も可検査である必要がある.SoCでは縮退故障などのような論理故障のみならず,遅延故障などのようなタイミング故障のテストも重要となる.そのためには,コアに実動作速度(at-speed)で任意のテストパターンを連続して印加でき,その応答を連続して観測できる必要がある.本論文では,このようなテストアクセスを可能とする性質として,コアに対して連続透明性,SoCに対して連続可検査性なる新しい概念を提案し,連続可検査なSoCを実現するためのテスト容易化設計法を示す.
