ITシステム高信頼化技術の動向と課題 : メインフレーム時代からオープン時代へ(ディペンダブルコンピュータシステムとセキュリティ技術及び一般)  [in Japanese] Trends and Future Problems of IT Systems High Availability : From Mainframes to Open Systems  [in Japanese]

Abstract

IT化の拡大によりIT障害回避の重要性が増している。価格低減圧の下、今後のオープンシステムの高信頼化をどのように実現するかが大きな課題である。この課題を、信頼性技術の基本的フレームワークの明確化、過去におけるメインフレームはオープン系の高信頼化グ術の動向調査・分析、最近の統計やシステム障害事例、ITトレンドなどから推定・分析し、今後の研究課題を提示する。その結果、オープン系の信頼性技術はメインフレームに迫っている、今後は高信頼性を低価格で実現する必要がある、従来あまり対策されて来なかった人間間やxSPサービスを含んだ信頼性などの向上策が必要であることがわかった。

Wide use of information technology increases the inportance of information system failure avoidance. It is a problem to make information systems integrated with open IT component more dependable under the pressure of lower prices. We address this problem by clarifying the basic framework of information systems reliability, surveying reliability technology which have been used in mainframes and open systems, and analyzing statistics and actual cases of recent information system failures. It is obtained that the reliability of open systems is becoming close to that of mainframes, that it is required to achive higher reliability and lower prices at the same time, and that it is necessary to level up the reliability including human operators and xSP service that have attracted less attention ever.

Journal

IEICE technical report. Dependable computing   [List of Volumes]

IEICE technical report. Dependable computing 107(17), 25-30, 2007-04-13  [Table of Contents]

The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

References:  12

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Codes

  • NII Article ID (NAID) :
    110006273355
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID) :
    AA11645397
  • Text Lang :
    JPN
  • Article Type :
    Journal Article
  • ISSN :
    09135685
  • NDL Article ID :
    8724849
  • NDL Source Classification :
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL Call No. :
    Z16-940
  • Databases :
    CJP  CJPref  NDL  NII-ELS