Surface defects evaluation by 2-axis MFL testing

• Masataka Abe

• Eiji Matsumoto

• Shiro Biwa

書誌事項

タイトル別名

• Surface defects evaluation by 2 axis MFL testing
• Surface Defects Evaluation by 2-Axis MFL Testing(Special Issue of the Asia-Pacific Symposium on Applied Electromagnetics and Mechanics (APSAEM06)) :
• Special issue of Asia-Pacific Symposium on Applied Electromagnetics and Mechanics (APSAEM06)
• Special issue of Asia Pacific Symposium on Applied Electromagnetics and Mechanics APSAEM06

抄録

コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会

収録刊行物

• 日本AEM学会誌 = Journal of the Japan Society of Applied Electromagnetics and Mechanics

  日本AEM学会誌 = Journal of the Japan Society of Applied Electromagnetics and Mechanics 15 (3), 242-245, 2007-09

  東京 : 日本AEM学会

キーワード

• MFL testing
• 2-Axis sensing
• Dipole model
• Flaw detection
• Surface flaw

詳細情報

• CRID: 1520290883395020160
• NII論文ID: 110006390067
• NII書誌ID: AN10457520
• ISSN: 09194452
• NDL書誌ID: 8950541
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/8950541
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8950541
• Web Site: http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/11148895
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZM35(科学技術--物理学)
• データソース種別:
  • NDL
  • NDL-Digital
  • CiNii Articles