The impact of bias voltage on the performance of a P.I.N. diode loaded smart antenna

• E. Palantei

• D. V. Thiel

書誌事項

タイトル別名

• The impact of bias voltage on the performance of a P I N diode loaded smart antenna
• The Impact of Bias Voltage on the Performance of a P.I.N. Diode Loaded Smart Antenna(Special Issue of the Asia-Pacific Symposium on Applied Electromagnetics and Mechanics (APSAEM06)) :
• Special issue of Asia-Pacific Symposium on Applied Electromagnetics and Mechanics (APSAEM06)
• Special issue of Asia Pacific Symposium on Applied Electromagnetics and Mechanics APSAEM06

抄録

コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会

収録刊行物

• 日本AEM学会誌 = Journal of the Japan Society of Applied Electromagnetics and Mechanics

  日本AEM学会誌 = Journal of the Japan Society of Applied Electromagnetics and Mechanics 15 (3), 274-277, 2007-09

  東京 : 日本AEM学会

キーワード

• Switched-beam smart antenna
• Switching network
• Intelligent RF circuit
• P.I.N. diode
• MoM algorithm

詳細情報

• CRID: 1520290883342072704
• NII論文ID: 110006390075
• NII書誌ID: AN10457520
• ISSN: 09194452
• NDL書誌ID: 8950711
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8950711
• Web Site: http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/11148903
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZM35(科学技術--物理学)
• データソース種別:
  • NDL
  • NDL-Digital
  • CiNii Articles