Basic Course in Semiconductor Device Reliability (3)

• SHIONO Noboru

  (財)日本電子部品信頼性センター

Bibliographic Information

Other Title

• 半導体デバイスの信頼性基礎講座(3) : 信頼度予測(信頼性基礎講座)
• 信頼性基礎講座 半導体デバイスの信頼性基礎講座(3)信頼度予測
• シンライセイ キソ コウザ ハンドウタイ デバイス ノ シンライセイ キソ コウザ 3 シンライド ヨソク

Journal

• The Journal of Reliability Engineering Association of Japan

  The Journal of Reliability Engineering Association of Japan 29 (6), 406-409, 2007

  Reliability Engineering Association of Japan

Details

• CRID: 1390001204453450496
• NII Article ID: 110006390616
• NII Book ID: AN10540883
• DOI: 10.11348/reajshinrai.29.6_406
• ISSN: 24242543
• ISSN: 09192697
• NDL BIB ID: 8945290
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8945290
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • JaLC
  • NDL
  • CiNii Articles