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Abstract
半導体技術の微細化に伴う素子のばらつき増大により,設計制約が非常に厳しくなっている.従来行われてきた保守的な最悪ケース指向設計が必要とする設計マージンが大きくなっているためである.我々は最悪ケースに囚われるのではなく,典型的ケースを配慮することで設計制約を緩和する手法として,建設的タイミング違反方式(Constructive Timing Violation : CTV)を検討している.本手法を評価するにあたり,回路遅延を考慮した評価環境が必要になる.本稿では,ゲートレベル・シミュレーションとアーキテクチャレベル・シミュレーションのコ・シミュレーションによる評価環境を構築し,CTVとその性能改善手法の評価を行い,マイクロプロセッサに与える効果を明らかにする.
The deep submicron semiconductor technologies have increased process variations. They make worst-case designs impossible. This is because larger variations require larger design margins. In order to realize robust designs, we have to design LSIs by considering typical-cases rather than worst cases. We are investigating such a typical-case design methodology, which we call Constructive Timing Violation (CTV). In order to evaluate the CTV, we have to consider circuit delay. We build a co-simulation environment by combining gate level simulation with architectural level simulation. We evaluate the CTV and its enhanced techniques by the co-simulation environment.
Journal
- IEICE technical report. Dependable computing [List of Volumes]
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IEICE technical report. Dependable computing 107(174), 31-36, 2007-07-26 [Table of Contents]
The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers