書誌事項
- タイトル別名
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- Measurements of Proton Irradiation Effects in Light Emitting Devices
- ハッコウ デバイス ノ プロトン ショウシャ コウカ ソクテイ
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抄録
A measurement system for proton radiation effects in light emitting devices such as light emitting diodes and semiconductor lasers are described. 10-MeV and 200-MeV proton beams in the Wakasawan Energy Research Center are utilized. Current vs. voltage characteristics, current vs. light output characteristics and spectra can be measured using an integration sphere, a Si photodiode, a data logger and a spectrometer. In the case of 200-MeV irradiation, remote measurement is conducted.
収録刊行物
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- 福井工業大学研究紀要. 第一部
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福井工業大学研究紀要. 第一部 (37), 319-326, 2007-05-31
福井工業大学
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1390014813074849792
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- NII論文ID
- 110006459269
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- NII書誌ID
- AN10503694
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- ISSN
- 02868571
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- NDL書誌ID
- 8875889
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- 本文言語コード
- ja
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- データソース種別
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- JaLC
- IRDB
- NDL
- CiNii Articles
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- 抄録ライセンスフラグ
- 使用可