発光デバイスのプロトン照射効果測定

• 權田 俊一

• 津々美 裕之

• 伊藤 慶文

• 石神 龍哉

• 久米 恭

• 菅 文博

• Gonda Shun-ichi

• Tsutsumi Hiroyuki

• Ito Yoshifumi

• Ishigami Ryoya

• Kume Kyo

• Kan Hirofumi

書誌事項

タイトル別名

• Measurements of Proton Irradiation Effects in Light Emitting Devices
• ハッコウ デバイス ノ プロトン ショウシャ コウカ ソクテイ

抄録

A measurement system for proton radiation effects in light emitting devices such as light emitting diodes and semiconductor lasers are described. 10-MeV and 200-MeV proton beams in the Wakasawan Energy Research Center are utilized. Current vs. voltage characteristics, current vs. light output characteristics and spectra can be measured using an integration sphere, a Si photodiode, a data logger and a spectrometer. In the case of 200-MeV irradiation, remote measurement is conducted.

収録刊行物

• 福井工業大学研究紀要. 第一部

  福井工業大学研究紀要. 第一部 (37), 319-326, 2007-05-31

  福井工業大学

詳細情報

• CRID: 1390014813074849792
• NII論文ID: 110006459269
• NII書誌ID: AN10503694
• ISSN: 02868571
• DOI: 10.57375/00000459
• NDL書誌ID: 8875889
• Web Site: https://fut.repo.nii.ac.jp/records/465
• Web Site: http://id.ndl.go.jp/bib/8875889
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8875889
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • IRDB
  • NDL
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用可