Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism: relation to sliding contact mechanism

• Shin-ichi Wada

• Taketo Sonoda

• Hiroshi Amao

書誌事項

タイトル別名

• Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism relation to sliding contact mechanism
• Electromechanical devices
• Electromechanical devices

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 107 (309), 103-108, 2007-11

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• electrical contact
• oscillating mechanism
• micro-oscillation
• contact resistance
• sliding contact
• sliding mechanism

詳細情報

• CRID: 1520009409354129664
• NII論文ID: 110006532485
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 9291225
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I9291225
• 本文言語コード: en
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles