ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--接触抵抗の変化

• 和田 真一

• 園田 健人

• 天尾 裕士

書誌事項

タイトル別名

• ハンマリング カシン キコウ ニ ヨル デンキ セッテン ノ レッカ ゲンショウ セッショク テイコウ ノ ヘンカ
• Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism: fluctuation of contact resistance
• 機構デバイス
• キコウ デバイス

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 107 (408), 11-16, 2007-12-21

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 電気接点
• 加振機構
• 微小振動
• 接触抵抗
• 摺動接触
• 摺動機構
• electrical contact
• oscillating mechanism
• micro-oscillation
• contact resistance
• sliding contact
• sliding mechanism

詳細情報

• CRID: 1520572357835741184
• NII論文ID: 110006549461
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 9330207
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I9330207
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles