四光波混合による三次元屈折率分布測定におけるアーティファクトとその補償に関する検討(フォトニックNW・デバイス,フォトニック結晶・ファイバとその応用,光集積回路,光導波路素子光スイッチング,導波路解析,および一般)  [in Japanese] Analysis and compensation of artifacts in three-dimensional refractive index profiling by four-wave mixing technique  [in Japanese]

我々は超短光パルスの集光照射により誘起される四光波混合過程(four-wave mixing, FWM)に基づく三次元屈折率分布測定法を提案している.従来法では屈折率情報を光位相から取得するが,これに対して本手法は屈折率情報を光強度から取得するまったく新しい手法であり,高い三次元空間分解能や定量性といった特長を有する.しかし,これまでに我々は,本手法による測定結果に実際の屈折率分布に起因しない分布(アーティファクト)が生じることを確認している.今回,このアーティファクトについて解析し,さらに補償に関する検討を行ったので報告する.

We are proposing a technique of refractive index (RI) mapping by use of four-wave mixing (FWM) process, which is caused by focusing ultra-short optical pulses with a high-numerical aperture objective lens. Compared to conventional techniques in which RI information is acquired from optical phase, our method is completely novel in that RI information is acquired from optical intensity. This technique offers high spatial resolution in three-dimensions and quantitative capability. However, we have found that the RI distribution acquired by this technique involves artifacts. In this report, we analyze the artifacts and study on its compensation.