ポリグラフ検査におけるP300を用いた探索質問法の検討 A study of the Searching Concealed Information Test (SCIT) by the Event-related potentials on the polygraph examination

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抄録

本研究では,事象関連脳電位(P300)を用いた探素質問法の可能性を検討する。探素質問法とは,ポリグラフ検査における秘匿情報質問法(CIT)に類似する実務的な検査法である。今回,視覚刺激を非ランダム呈示する方法にて,P300にて検出が可能なのかどうかを試みた。実験は,3刺激オッドボール課題を用いた。視覚刺激は,被験者が記憶した情報よりも多くの情報量にて呈示された。その結果,検出率は62.5%であり,また選択項目と非選択項目との値に有意差が見られた。今回の方法が,P300による探索質問法として有効であることが示唆された。

This study examined possibility of the Event-related potentials (P300 amplitude) in the polygraph examination using the Searching Concealed Information Test (SCIT). The SCIT is an applied method similar to the Concealed Information Test (CIT) in the field of polygraph. In this study, the visual stimulus was presented in nonrandom, and whether it was possible to detect the relation stimulus by P300 amplitude was tried. The design of the experiment was three- stimulus visual oddball task. As for the visual stimulus that related to the subject, they were presented by volume of information more than memorized criminal information. As a result, the detection rate was 62.5% and a statistical significance was seen in the value of the selection item and non-selection item. It was suggested that this method be effective as the SCIT by P300 amplitude.

収録刊行物

  • 研究紀要

    研究紀要 9, 67-75, 2008-03

    関西国際大学

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    110006966674
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11544811
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    Departmental Bulletin Paper
  • 雑誌種別
    大学紀要
  • ISSN
    13455311
  • NDL 記事登録ID
    9428336
  • NDL 雑誌分類
    ZV1(一般学術誌--一般学術誌・大学紀要)
  • NDL 請求記号
    Z71-J422
  • データ提供元
    NDL  NII-ELS  IR 
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