プロセスばらつきや温度耐性を向上した45nm SoC向け混載SRAM

• 薮内 誠

• 新居 浩二

• 塚本 康正

書誌事項

タイトル別名

• プロセス バラツキ ヤ オンド タイセイ オ コウジョウシタ 45nm SoC ムケ コンサイ SRAM
• A 45nm low-standby-power embedded SRAM with improved immunity against process and temperature variations
• 集積回路
• シュウセキ カイロ

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 108 (140), 17-21, 2008-07

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• SRAM
• アシスト回路
• 45nm CMOS
• ばらつき
• Assist circuit
• Variability

詳細情報

• CRID: 1520009409268653568
• NII論文ID: 110006975881
• NII論文ID: 110006967554
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 9606081
• NDL書誌ID: 9605790
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I9606081
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I9605790
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles