20pRB-2 電子プローブを用いた軟X線領域スペクトルによる局所電子状態解析(20pRB 領域10シンポジウム:TEMによる最先端局所構造解析,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

• 武藤 俊介

  名古屋大学大学院工学研究科

書誌事項

タイトル別名

• 20pRB-2 Local electronic structure analysis by soft X-ray region spectroscopy using a high-energy electron probe

収録刊行物

• 日本物理学会講演概要集

  日本物理学会講演概要集 63.2.4 (0), 863-, 2008

  一般社団法人 日本物理学会

詳細情報

• CRID: 1390282680996009088
• NII論文ID: 110006985692
• DOI: 10.11316/jpsgaiyo.63.2.4.0_863_1
• ISSN: 21890803
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • CiNii Articles