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Abstract
GaN/AlNサブバンド間遷移スイッチへの応用を目的として、AlNを下部クラッド層、GaNをコア層とし中央に量子井戸層を設け、SiNを上部クラッドとする導波路構造でサブバンド間吸収を実現した。同時に、SiNをクラッドとしたスポットサイズ変換を実証した。この結果は、GaN/AlNサブバンド間遷移光スイッチの動作エネルギー低減可能性、および、集積光デバイスへの適用可能性を示唆するものでもある。
Intersubband absorption was achieved for a waveguide with SiN as a upper cladding layer. With the purpose of applying to ultrafast optical switches, the waveguide consisted of an AlN lower cladding layer and a GaN core layer with quantum wells inside as well as the SiN upper cladding layer. In addition, spot-size conversion was verified with the SiN cladding. These results lead to the expectation of decrease in the switching energy and to the possibility of realizing integrated photonic devices.
Journal
- Technical report of IEICE. OPE [List of Volumes]
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Technical report of IEICE. OPE 108(260), 113-116, 2008-10-16 [Table of Contents]
The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers