ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象--加振機構のモデリング(その3)

• 和田 真一

• 越田 圭治

• 園田 健人

書誌事項

タイトル別名

• ハンマリング カシン キコウ ニ ヨル デンキ セッテン ノ レッカ ゲンショウ カシン キコウ ノ モデリング ソノ 3
• Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism: modeling of the oscillating mechanism (3)
• 機構デバイス
• キコウ デバイス

収録刊行物

• 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報

  電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 108 (368), 29-34, 2008-12-19

  東京 : 電子情報通信学会

キーワード

• 電気接点
• ハンマリング加振機構
• 数学的モデリング
• 逆問題
• シミュレーション
• electrical contact
• hammering oscillating mechanism
• mathematical model
• inverse problem
• simulation

詳細情報

• CRID: 1520009408869852416
• NII論文ID: 110007115104
• NII書誌ID: AA1123312X
• ISSN: 09135685
• NDL書誌ID: 9763805
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I9763805
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles