光結合を用いたフェールセーフ論理ゲート(安全性及び一般)  [in Japanese] Optically Coupled Fail-safe Logic Gates  [in Japanese]

Abstract

光結合を用いたフェールセーフ論理回路素子を提案する.従来のフェールセーフ論理回路素子は,回路内部が電気的に結合されているため,電源枠外処理を行って入出力端子間の独立性を得ている.本稿で提案する光結合による論理素子は,フォトカプラを利用して,入出力端子間を電気的に絶縁し,それぞれの独立性をさらに向上させるものである.

Optically coupled fail-safe logic gates are proposed in this paper. Whereas the conventional fail-safe logic gates based on dynamic processing adopt level transformation by boosted voltage to avoid the influence of input malfunction to output, the proposed gates apply photocouplers to enhance the electronic independence of logic gate components.

Journal

IEICE technical report. Dependable computing   [List of Volumes]

IEICE technical report. Dependable computing 108(352), 1-4, 2008-12-05  [Table of Contents]

The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

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Codes

  • NII Article ID (NAID) :
    110007123196
  • NII NACSIS-CAT ID (NCID) :
    AA11645397
  • Text Lang :
    JPN
  • Article Type :
    ART
  • ISSN :
    09135685
  • NDL Article ID :
    9762855
  • NDL Source Classification :
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL Call No. :
    Z16-940
  • Databases :
    CJP  NDL  NII-ELS